Microscopie électronique
Sites géographiques : Doua et ENS Lyon
Responsable technique : Clémentine Fellah
Adresse email : clementine.fellah@ens-lyon.fr
Photo Vincent Moncorgé Ⓒ
Presentation de la plateforme
La plateforme de microscopie électronique permet à l’ensemble des thématiques de recherche du laboratoire de disposer de techniques d’imagerie conduisant à l’observation et à l’analyse de la surface d’échantillons naturels et expérimentaux. Il est possible d’obtenir à petite échelle des informations sur la morphologie, l’organisation structurale et la composition élémentaire de multiples matériaux.
Ces équipements sont à la disposition des chercheurs du LGL-TPE mais également ouverts pour toute collaboration scientifique extérieure ayant besoin d’expertise en caractérisation des matériaux à l’échelle microscopique. Pour toute demande de formation, de réservation ou de développement, contacter la responsable technique de la plateforme.
Les instruments de la plateforme servant à la préparation et à l’analyse des échantillons sont répartis sur plusieurs sites ; ceux de la Doua et de l’ENS Lyon.
Préparation d’échantillons (Géode et ENS Lyon)
Plusieurs outils de découpe, d’enrobage et de polissage sont accessibles sur les deux sites lyonnais pour préparer des échantillons massifs pour la microscopie électronique et la microanalyse. Un évaporateur carbone LEICA EM ACE600 est également à disposition à l’ENS Lyon pour la préparation d’échantillons peu conducteurs ou isolants. Photo Vincent Moncorgé Ⓒ
Observations et analyses (ENS Lyon)
Cathodoluminescence optique
Le dispositif de cathodoluminescence Cathodyne (Newtec) permet d’imager de très fines variations de concentration en éléments traces de l’échelle centimétrique à micrométrique. Les structures des échantillons (zonation, oscillations, grains) peuvent facilement être décelées en surface avant de passer à une caractérisation à plus petite échelle sur le MEB.
Microscopie électronique à balayage
Le microscope électronique à balayage (MEB) est une technique d’imagerie et d’analyses à haute résolution de la surface des échantillons. L’IT800HL (JEOL) de la plateforme est équipé de détecteurs d’imagerie, d’un détecteur STEM (Deben) pour les échantillons minces et d’un détecteur EDX (X-Max 50 d’Oxford Instruments) pour la microanalyse élémentaire. Ce MEB peut analyser des échantillons à l’échelle nanométrique en vide partiel jusqu’à 300 Pa. Photo Vincent Moncorgé Ⓒ
Le LGL-TPE est partenaire du CLYM (Consortium Lyon St-Etienne de Microscopie – FED 4092) et a un accès privilégié à des appareils de microscopie électronique de pointe situés à l’INSA Lyon (https://www.clym.fr/fr/microscopes; Contact: C. Fellah), au CNRS (https://www.clym.fr/fr/node/71), et à l’Université Jean Monnet de St-Etienne (MET corrigé NeoARM200F de dernière génération: https://www.clym.fr/fr/node/336 et https://www.clym.fr/fr/node/441 – Contact: A-M Seydoux-Guillaume).
